全自動(dòng)探針臺是一種用于測試芯片性能的設備,其工作原理主要涉及到力學(xué)、電學(xué)和光學(xué)等多個(gè)方面。
下面將詳細介紹全自動(dòng)探針臺的工作原理。
1、需要將待測芯片放置在精密加工的平面上,這個(gè)平面具有很高的平整度,可以提供精確定位和精確探針接觸的工作平臺。在這個(gè)平臺上,探針與芯片的接觸點(diǎn)相對應,以便進(jìn)行電性能測試。
2、通過(guò)精密運動(dòng)控制器控制探針的位置和運動(dòng)軌跡。運動(dòng)控制器能夠精確地控制探針穿過(guò)芯片上精微的引腳,確保探針與引腳的穩定接觸。在這個(gè)過(guò)程中,探針需要根據預定的路徑進(jìn)行精確移動(dòng),以避免在測試過(guò)程中出現誤差。
3、還需要利用探針將特定的電信號輸入芯片引腳中,然后讀取和分析輸出的電信號。這些電信號的傳輸和測量是核心功能之一。通過(guò)測量輸入和輸出信號的變化,可以獲取芯片的性能參數,如電壓、電流、電阻等。
4、還需要考慮光學(xué)方面的問(wèn)題。在一些測試中,需要利用光學(xué)儀器對芯片進(jìn)行觀(guān)察和測量,例如測量芯片的尺寸、觀(guān)察芯片的表面形貌等。這些光學(xué)測量方法通常需要配合電學(xué)測試一起使用,以確保測試結果的準確性和可靠性。
5、將測試數據傳輸給數據處理系統進(jìn)行分析和處理。數據處理系統可以對測試數據進(jìn)行統計分析、誤差修正和性能評估等操作,為進(jìn)一步的研究和開(kāi)發(fā)提供依據。
全自動(dòng)探針臺的工作原理涉及到多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域的知識和技術(shù),包括力學(xué)、電學(xué)、光學(xué)和數據處理等。通過(guò)將這些技術(shù)綜合應用,能夠實(shí)現對芯片性能的高效、準確測試和分析,為半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展提供重要的技術(shù)支持。